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在半導體制造中,純凈度就是生命線。哪怕是一顆微米級的塵埃、一個分子級的污染物,都足以摧毀價值連城的晶圓,導致良率驟降。在眾多污染源中,工藝設備及其真空、氣體輸送系統(tǒng)的微小泄漏是一個隱蔽卻致命的威脅。它不僅會引入空氣中的水分、氧氣和顆粒物,更可能導致工藝氣體比例失調,形成致命的缺陷。
日本TLV檢漏儀,正是為此而生的“無塵環(huán)境守護者",以其卓的越的性能為半導體制造的工藝純凈度筑起一道堅實的防線。
半導體工藝設備(如CVD、PVD、蝕刻、擴散爐等)對密封性的要求達到了極的致。傳統(tǒng)的檢漏方法或使用可能存在污染的示蹤物質,或精度不足,無法滿足要求。TLV的方案核心在于:
超高靈敏度(He級):采用氦質譜檢漏技術,能夠檢測到極微小的泄漏率(通??蛇_10?11 Pa·m3/s級別),遠高于氣泡法等傳統(tǒng)手段,在泄漏造成危害前即可發(fā)現(xiàn)。
潔凈無污染:氦氣是惰性氣體,化學性質穩(wěn)定,不會與工藝腔室內的任何材料發(fā)生反應,不會留下任何殘留物或污染物,保證了檢測過程本身不會對設備和晶圓造成二次污染。
精準定位:配合吸槍法或真空模式,能夠快速、精準地定位泄漏點,無論是閥門、焊縫、密封圈還是法蘭連接處,都能無處遁形,極大縮短了設備維護和停機時間。
預防性維護(PM):定期對關鍵設備進行檢漏,是Fab廠預防性維護計劃的核心環(huán)節(jié)。TLV檢漏儀能夠系統(tǒng)性地排查隱患,防止突發(fā)性泄漏導致的生產中斷和批量性報廢。
新設備驗收(IQ/OQ):在新設備安裝或現(xiàn)有設備大修后,使用TLV檢漏儀進行驗收測試,確保其密封性能達到設計標準,是從源頭保障質量的關鍵一步。
提升良率與降低成本:通過杜絕因泄漏引起的缺陷,直接提升產品良率。同時,快速定位故障點避免了冗長的排查過程,減少了設備非計劃停機時間,從而顯著降低綜合生產成本。
保障工藝一致性:穩(wěn)定的真空環(huán)境和純凈的氣體氛圍是工藝重復性的基礎。TLV檢漏儀確保了這一基礎的牢固,從而保證了每一片晶圓都在相同的優(yōu)異條件下被加工。
在邁向更先進制程(如3nm、2nm)的道路上,對潔凈度和精密控制的要求只會越來越嚴苛。日本TLV的無污染檢漏方案,憑借其超高靈敏度、潔凈無害和卓的越可靠性,超越了單純的工具范疇,成為了半導體制造不的可的或的缺的質量守護基石。它不僅是檢測泄漏,更是保障天價投資、尖的端工藝和最終產品競爭力的關鍵一環(huán)。
選擇TLV,就是選擇對“純凈"的絕對承諾。