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更新時間：2025-11-27 
瀏覽次數(shù)：93GCT-311是一款基于庫侖法原理設(shè)計的電解式膜厚測量儀器，主要用于電鍍層厚度的精確測定。該設(shè)備通過電化學(xué)溶解過程，結(jié)合現(xiàn)代計算機技術(shù)，實現(xiàn)鍍層厚度的自動化測量與數(shù)據(jù)分析。
測量原理基于法拉第電解定律：在特定電解液環(huán)境中，通過恒定電流對標準面積的電鍍層進行電解溶解，根據(jù)完的全溶解所需的時間精確計算鍍層厚度。這種直接測量方法具有理論基礎(chǔ)明確、測量結(jié)果可靠的特點。
該測量系統(tǒng)主要由以下幾個部分組成：
主機控制單元
電解測量探頭
專用電解液系統(tǒng)
計算機數(shù)據(jù)處理平臺
主要技術(shù)規(guī)格包括：
測量范圍：0.01～300μm
最小分辨率：0.001μm
基本精度：±1%
測量單位：支持μm、um、mil、MI多種單位
測量面積：1.7、2.4、3.4mm2三種標準規(guī)格
電源要求：AC100V(兼容110,120,220V) 50/60Hz
外形尺寸：265×215×138mm
設(shè)備重量：4.5kg
該設(shè)備具備多項實用功能：
智能化操作：采用Windows系統(tǒng)計算機控制，提升操作便利性
多層測量：支持最多5層鍍層的測量條件設(shè)置
異常預(yù)警：通過上下限設(shè)定，異常數(shù)據(jù)以紅色顯示并發(fā)出警示音
數(shù)據(jù)管理：最多可注冊50個測量通道參數(shù)
特殊測量：
可選配比較銀電極進行電位圖測量
支持雙鎳層、三鎳層的電位差測量
錫/銅鍍層可分別測量純錫層和合金層
該儀器適用于多種鍍層與基材組合的測量，典型應(yīng)用包括：
| 鍍層類型 | 適用電解液 | 基材材料 |
|---|---|---|
| 銅鍍層 | K-44、K-52 | 鐵、鋁、鎳、黃銅等 |
| 鎳鍍層 | K-54 | 鐵、鋁、銅、不銹鋼等 |
| 鉻鍍層 | K-47、K-51 | 黃銅、銅、鐵、鋁等 |
| 鋅鍍層 | K-46 | 鐵、鋁、黃銅、銅等 |
| 錫鍍層 | K-47、K-50、K-51 | 鐵、鎳、鋁、銅等 |
| 銀鍍層 | K-44、K-48、K-48G | 鐵、鋁、黃銅、鎳等 |
注：上述組合僅為GCT-311可測量的部分代表性示例。
該膜厚計符合多項國際標準：
JIS H8501、H8610-8619（日本工業(yè)標準）
ASTM B504-82（美國材料試驗協(xié)會標準）
MIL標準（美軍標準）
ISO 2177（國際標準）
DIN 50932、50955（德國標準）
這些認證確保了測量結(jié)果的國際通用性和可靠性。
設(shè)備提供多種選配組件：
WT測量臺：適用于線材及寬度1.7mm以下的小型零件
比較銀電極：用于多層鎳鍍層測量時的電位差測定
為確保測量準確性，建議遵循以下操作要求：
根據(jù)鍍層與基材組合選擇對應(yīng)的電解液
保持測量區(qū)域清潔，確保良好接觸
定期校準儀器，驗證測量精度
妥善保存測量數(shù)據(jù)，便于質(zhì)量追溯
GCT-311電解式膜厚計代表了電鍍層測量技術(shù)的成熟發(fā)展。其精確的測量能力和完善的功能配置，使其在電子元器件、汽車零部件、航空航天等領(lǐng)域的質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化中發(fā)揮著重要作用。
該設(shè)備的技術(shù)特點使其特別適合需要高精度厚度測量的應(yīng)用場景，為產(chǎn)品質(zhì)量保證和工藝改進提供了可靠的技術(shù)支持。隨著制造業(yè)對表面處理質(zhì)量要求的不斷提高，這種基于物理原理的直接測量方法將繼續(xù)在工業(yè)檢測領(lǐng)域保持其重要地位。
正確使用和維護測量設(shè)備，既是確保產(chǎn)品質(zhì)量的基本要求，也是實現(xiàn)精密制造的重要保障。該儀器的標準化設(shè)計使其能夠滿足從基礎(chǔ)研究到工業(yè)生產(chǎn)等多個層面的測量需求。
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