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山田光學(xué) YAMADA「高強度鹵素光源」: 給晶圓一次“無影燈級”的 360°體檢

更新時間:2026-01-15      瀏覽次數(shù):65

山田光學(xué)「高強度鹵素光源」:給晶圓一次“無影燈級"的 360°體檢一、先給數(shù)字輸出 35 klx @ 300 mm 工作距——比同功率 LED 陣列再亮 1.7 倍色溫 3 200 K,顯指 Ra 98——金屬層顏色偏差 ΔE<0.5,AI 判圖不再“誤殺"熱啟動 < 3 s,冷重啟 < 60 s——節(jié)拍 1 s 的晶圓全檢線也等得起壽命 2 000 h(額定)/ 3 000 h(ECO 模式)——比傳統(tǒng)鹵素?zé)粞娱L 40 %光纖出口照度衰減 ≤ 5 % @ 500 h——省去頻繁標(biāo)定把以上指標(biāo)塞進一臺 2U ?19" 機箱里,就是山田光學(xué)為 YP-150I / YP-250I 遠心鏡頭量身定制的「高強度鹵素光源」——晶圓缺陷檢測的“無影燈"。二、為什么晶圓檢測還離不開“鹵素"連續(xù)譜:400 nm–800 nm 無尖峰,金屬膜(Al、Cu、TiN)表面微劃痕的散射光均勻,不會出現(xiàn)藍光 LED 造成的“暗劃痕"漏檢。高顯指:Ra 98 讓 AI 分類模型在顏色特征空間聚類更緊致,實測誤報率下降 0.3 % → 0.05 %。熱慣性低:燈絲熱容量小,亮度 90 % 穩(wěn)定時間 < 3 s,適合“片到即拍"的短節(jié)拍設(shè)備??烧{(diào)紋波:山田內(nèi)置 120 kHz 高頻恒流源,光輸出紋波 < 0.2 %,避免線掃相機行頻與工頻拍頻造成的橫向條紋。三、系統(tǒng)架構(gòu):把“熱量"留在機箱,“冷光"送進真空腔35 W 鹵素?zé)糁?→ 鍍金反射碗 → 8 mm 液芯光纖 → 真空法蘭 → 山田 YP 遠心鏡頭同軸入口機箱內(nèi) 2×40 mm 磁浮風(fēng)扇,噪音 38 dB(A);燈珠溫度維持在 85 ℃,外殼 < 45 ℃,可直接貼在運動平臺側(cè)面光纖出光口 22 mm 工作距處照度可達 35 klx,景深 5 mm 內(nèi)均勻性 ±3 %——覆蓋 150 mm/250 mm 全視場,無需額外條形補光四、與 YP-150I / YP-250I 的“光學(xué)握手"山田把同軸照明端口設(shè)計成 F 值 = 8.0,恰好匹配 YP 系列物方遠心光路:光線平行度 ≤ 0.05°,減少晶圓表面傾斜 1° 時引入的 0.2 µm 測量誤差同軸分光鏡鍍 45° 400–700 nm 寬帶膜,透過率 95 %,反射率 50 %,保證相機收到足夠亮度同時避免“亮斑吃灰"整個光路無額外玻璃片,系統(tǒng) TV 畸變?nèi)跃S持 < 2 µm,12 英寸晶圓邊緣與中心測量一致性 ≤ 0.8 µm

五、實測對比:鹵素 vs 白光 LED vs 激光散射


| 指標(biāo)                   | 鹵素 35 W | LED 60 W | 激光 520 nm 5 W | 備注         |

| ---------            | -------        | --------    | -------------          | ---------- |

| 照度 @22 mm | 35 klx          | 20 klx      | 點照明                   | 鹵素勝出       |

| 顯指 Ra           | 98                | 85            | —                        | 顏色缺陷識別率↑   |

| 熱影響            | 0.3 ℃/片      | 0.2 ℃/片  | 0.1 ℃/片              | 均低于晶圓熱變形閾值 |

| 劃痕檢出率     | 99.7 %         | 97.1 %     | 96.8 %                 | 鹵素漏檢最少     |

| 燈壽命           | 2 000 h        | 50 000 h   | 10 000 h            | 鹵素需定期換燈    |

| 單次耗材成本 | USD 18        | 0              | 0                         | 換燈 < 2 min |

六、場景案例12 英寸 Cu 制程 BUMP 高度測量配置:YP-250I + 20 MP 相機 + 高強度鹵素同軸結(jié)果:Bump 高度重復(fù)性 σ = 0.08 µm,GR&R 4 %,每小時可檢 110 片功率器件深溝槽(Trench)缺角檢測溝槽寬度 3 µm,深度 60 µm,側(cè)壁角 87°鹵素平行光在深溝形成清晰陰影,AI 輪廓匹配檢出 0.5 µm 崩角,誤判 < 20 ppmOLED 驅(qū)動芯片金屬劃痕金屬層厚 200 nm,劃痕寬度 < 1 µm高顯指鹵素讓劃痕與晶向反光顏色差異放大 1.8 倍,分類模型 F1-score 由 0.89 提到 0.96

七、升級路徑與生態(tài)亮度閉環(huán):內(nèi)置光電二極管,實時反饋燈珠照度,老化 80 % 自動報警,可與主機 SECS/GEM 協(xié)議對接ECO 模式:軟件把電流降到 70 %,壽命延長至 3 000 h,照度仍維持 28 klx,滿足非關(guān)鍵缺陷工序多通道:一臺機箱可插 2 燈 2 光纖,分時點亮,實現(xiàn)“明場 + 暗場"一鍵切換,節(jié)拍節(jié)省 0.4 s耗材包:燈珠 + 反射碗一體模塊,現(xiàn)場 30 秒熱插拔,備件價 USD 18,年均耗材成本 < USD 40/臺八、一句話總結(jié)當(dāng)芯片線寬走進 3 nm,缺陷尺寸已用 ? 來計算,任何“照明"都不再只是照明,而是數(shù)據(jù)質(zhì)量的源頭。山田光學(xué)把 35 W 鹵素?zé)糇龅?/span>優(yōu)良平行、均勻、顯指,塞進與 YP-150I / YP-250I 匹配的小盒子——讓每一次晶圓拍照,都像在無影燈下做一場外科手術(shù)??吹们澹拍軠y得準(zhǔn);測得準(zhǔn),才能良率無憂。

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