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SENA 廣角 LED 照明裝置 SEL ONE —— 半導(dǎo)體封裝用照明

更新時(shí)間:2026-01-24      瀏覽次數(shù):41

SENA 廣角 LED 照明裝置 SEL ONE
—— 把“整個(gè)光場"一次性鋪滿,讓檢測不再有死角


一、為什么 FAB 需要“廣角"
3D IC、Fan-Out RDL、車載 MEMS 深腔結(jié)構(gòu)越來越多,傳統(tǒng)定向照明或低角度環(huán)形燈出現(xiàn)三大盲區(qū):



  1. 側(cè)壁角 >45° 的區(qū)域無有效光線,缺陷漏檢;
  2. 高反射 Cu、SnAg 焊盤產(chǎn)生局部耀斑,把 true defect 淹沒;
  3. 機(jī)械手/吸盤遮擋造成陰影,需多次拍照拼接,產(chǎn)能下降。

SENA 把“廣角"做成標(biāo)準(zhǔn)品:SEL ONE 系列發(fā)光立體角 160°(FWHM),在 50 mm 工作距離可一次性照亮 120 mm×120 mm 區(qū)域,亮度均勻性 > 90 %,讓相機(jī)“一張圖"就能看清深腔、側(cè)壁、鏡面三大難度場景。

二、核心指標(biāo)一覽
• 峰值照度:1.2×10? lx @ 50 mm(白光全譜)
• 可調(diào)色溫:3000 K – 6500 K,四通道獨(dú)立(R/G/B/W)
• 出光角:160°(實(shí)測 80° 半角光強(qiáng)仍保持 50 %)
• 亮度均勻性:Φ100 mm 靶面內(nèi) ±5 %
• 頻閃速度:0-10 kHz,抖動(dòng) < 50 ns
• 表面溫升:< 6 °C(連續(xù) 100 % 輸出,自然散熱)
• 壽命:50 000 h L70,無需更換燈珠模塊

三、關(guān)鍵技術(shù)拆解


  1. 曲面微透鏡陣列 (CMLA)
    ? 將 8×8 顆大功率 LED 點(diǎn)光源重新映射成 160° 朗伯分布,消除傳統(tǒng) LED 的“熱點(diǎn)-暗環(huán)";
    ? 透鏡表面鍍 UV 級 AR,平均反射率 < 0.2 %,避免二次眩光。

2 四色合一 CSP 封裝? R/G/B/W 四芯共基板,發(fā)光面僅 1.6 mm×1.6 mm,混光距離縮短到 5 mm,腔體高度可壓縮至 12 mm;? 單通道 16 bit 調(diào)光,可在 200 µs 內(nèi)切換“高角度白→低角度紅→無影藍(lán)"三種模式,無需機(jī)械機(jī)構(gòu)。



3 石墨烯均熱板 + 蜂窩散熱鰭
? 導(dǎo)熱系數(shù) 1200 W/m·K,可把 60 W 電功耗均勻攤開,燈體表面溫差 < 2 °C;
? 自然對流下即可滿載工作,F(xiàn)AB 內(nèi)無需額外風(fēng)冷,避免顆粒擾動(dòng)。


4 幀同步驅(qū)動(dòng)
? 內(nèi)置 FPGA 環(huán)路,支持 Line-trigger、Frame-trigger、Encoder-trigger 三模;

? 與 200 kHz 線陣相機(jī)同步時(shí),行抖動(dòng) < 20 ns,保證 3.5 m/s 帶速下不拉伸圖像。


四、半導(dǎo)體與電子封裝典型用途
  1. Fan-Out RDL 深腔異物檢測
    ? 160° 廣角把 60 µm 深、側(cè)壁角 55° 的溝槽一次性打亮;
    ? 搭配 12 MP 面陣相機(jī),單幀即可檢出 1 µm Cu 碎屑,省去 4 向旋轉(zhuǎn)照明,UPH 提升 32 %。

   2 .     3D NAND 深孔 Macro-Inspection
? 高角度白光補(bǔ)足深孔 70 µm 底部照度,孔底裂紋信噪比提升 3 倍;
? 切換 450 nm 藍(lán)光,抑制 Poly-Si 晶圓背景雜訊,缺陷捕獲率由 92 % 提到 99 %


3.車載 MEMS 加速度計(jì)深槽刻蝕監(jiān)測

? 廣角 + 低角度混合模式,槽口 CD 2.5 µm、深寬比 15:1 的結(jié)構(gòu)側(cè)壁粗糙度在線可視化;
? 與工藝機(jī)臺 SECS/GEM 對接,實(shí)現(xiàn)刻蝕終點(diǎn) EPD 光學(xué)輔助信號。


4.Flip-Chip Cu-Pillar 共面性 3D 輪廓

? 紅/藍(lán)雙色分時(shí)照明,配合結(jié)構(gòu)光條紋,一次拍攝即可重建 300 顆 50 µm 微凸點(diǎn) 3D 形貌;

? 高度重復(fù)性 σ=0.15 µm,與白光干涉儀相關(guān)性 R=0.997,速度提升 6 倍。


5 光刻機(jī) Reticle 宏觀預(yù)檢

? 160° 均勻面光源消除 Chrome 膜耀斑,可在 5 s 內(nèi)完成 6 英寸掩膜版宏觀缺陷掃描,替代人工顯微鏡目檢。


五、選型與集成要點(diǎn)
  1. 機(jī)械接口
    ? 標(biāo)準(zhǔn) 90×90 mm 方形前框,4×M4 螺紋與常見環(huán)形燈互換;
    ? 厚度僅 18 mm,可裝入 25 mm 間隙的機(jī)械手末端。
  2. 電氣接口
    ? 24 V DC 輸入,峰值功率 60 W,平均功耗 < 20 W(50 % 占空比);
    ? 控制:

  3. 光學(xué)配件
    ? 可選偏振套件(0-90° 可調(diào)),消除鏡面反射耀斑;
    ? 可選漫射板升級,出光角擴(kuò)大到 180°,用于封閉腔體內(nèi)部全填充。
  4. 環(huán)境與認(rèn)證
    ? Class 10 潔凈兼容,表面陽極氧化密封,無顆粒析出;
    ? SEMI S2/S8、CE、RoHS、FCC 全部通過,可直接上 FAB 二次配。


    六、結(jié)語
    當(dāng)芯片走向 3D,當(dāng)封裝走向異質(zhì)集成,“看得見"不再是二維平面,而是深腔、側(cè)壁、鏡面并存的三維迷宮。SEL ONE 用 160° 廣角把整片光場一次性鋪滿,讓相機(jī)無需多角度拼接,讓算法無需陰影補(bǔ)償,讓產(chǎn)能不再被照明拖累。
    在半導(dǎo)體制造的納米世界里,SEL ONE 不是主角,卻是讓每一幀圖像都“沒有死角"的那道光——簡單、廣角、冷光、免維護(hù),為檢測與量測打開全新的視野。









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